

射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度(-120℃ ~ +300℃)。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估不可或缺的仪器设备。
射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度(-120℃ ~ +300℃)。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估不可或缺的仪器设备。
广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。
一.对比于传统的温箱,有以下几个特征:
(1)温度范围:-120℃ ~ +200℃;
(2)升降温速率非常快速,-55℃~150℃<10秒;
(3)温控精度:±1℃;
(4)温度设置能力:±0.1℃;
(5)温度显示能力:±0.1℃;
(6)最大气流量:25m3/h;
(7)实时监控被测IC真实温度, 实现闭环反馈,实时调整气体温度;
(8)升降温时间可控,可程序化操作、手动操作、远程控制。
二.经典应用场合:
(1)需要快速升/降温的应用场合
(2)针对PCB板上众多元器件中的某一单个IC(模块),将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
(3)对测试机平台load board上的IC进行温度循环/ 冲击;传统温箱无法针对此类测试。
(4)对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。
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